プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.53→55.6 Å / Num. obs: 12866 / % possible obs: 87.2 % / Observed criterion σ(I): 1 / 冗長度: 6.17 % / Rmerge(I) obs: 0.08 / Net I/σ(I): 2.2
反射 シェル
解像度: 1.53→1.58 Å / 冗長度: 1.89 % / Rmerge(I) obs: 0.29 / Mean I/σ(I) obs: 2.2 / % possible all: 23.2
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0019
精密化
d*TREK
データ削減
d*TREK
データスケーリング
REFMAC
位相決定
精密化
構造決定の手法: OTHER 開始モデル: NONE 解像度: 1.8→55.64 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.939 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.917 / SU B: 2.573 / SU ML: 0.084 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.16 / ESU R Free: 0.151 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.249
556
5 %
RANDOM
Rwork
0.198
-
-
-
obs
0.2
10509
100 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK