ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 HKL-2000データ収集 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング MOLREP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1WT5, 1E4X解像度 : 2.3→19.95 Å / Rfactor Rfree error : 0.006 / Data cutoff high absF : 1889779.34 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.228 1389 5 % RANDOM Rwork 0.191 - - - obs 0.191 27828 99.9 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 33.9897 Å2 / ksol : 0.367326 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 29.9 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -4.27 Å2 1.19 Å2 0 Å2 2- - -4.27 Å2 0 Å2 3- - - 8.53 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.3 Å 0.24 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.26 Å 0.19 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.3→19.95 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3367 0 3 240 3610
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.005 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.4 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d27.2 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.82 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.35 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2.2 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2.24 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it3.19 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.3→2.44 Å / Rfactor Rfree error : 0.018 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.264 219 4.7 % Rwork 0.216 4395 - obs - - 99.9 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 protein_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION 2 dna-rna_rep.param dna-rna.top X-RAY DIFFRACTION 3 water_rep.paramwater.topX-RAY DIFFRACTION 4 ion.paramion.top