SHEET THE SHEET STRUCTURE OF THIS MOLECULE IS BIFURCATED. IN ORDER TO REPRESENT THIS FEATURE IN ... SHEET THE SHEET STRUCTURE OF THIS MOLECULE IS BIFURCATED. IN ORDER TO REPRESENT THIS FEATURE IN THE SHEET RECORDS BELOW, TWO SHEETS ARE DEFINED.
モノクロメーター: SI(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9745 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.48→53.38 Å / Num. obs: 30142 / % possible obs: 99.9 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 5 % / Biso Wilson estimate: 19.38 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.06 / Net I/σ(I): 15.9
反射 シェル
解像度: 1.48→1.56 Å / 冗長度: 3.9 % / Rmerge(I) obs: 0.44 / Mean I/σ(I) obs: 4.6 / % possible all: 99.6
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.5.0070
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
MOLREP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: PREVIOUSLY SOLVED STRUCTURE FROM IN-HOUSE DATA 解像度: 1.48→33.19 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.972 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.953 / SU B: 4.202 / SU ML: 0.07 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.079 / ESU R Free: 0.084 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. U VALUES RESIDUAL ONLY. ATOM RECORD CONTAINS RESIDUAL B FACTORS ONLY.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.21741
1470
5 %
RANDOM
Rwork
0.1755
-
-
-
obs
0.17754
28138
98.37 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK