モノクロメーター: Ni / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.54 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.06→20 Å / Num. obs: 31114 / % possible obs: 88.4 % / 冗長度: 4.67 % / Rmerge(I) obs: 0.058 / Net I/σ(I): 12
反射 シェル
解像度: 2.06→2.13 Å / 冗長度: 4.39 % / Rmerge(I) obs: 0.293 / Mean I/σ(I) obs: 3.8 / % possible all: 91.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
CrystalClear
データ収集
MOLREP
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
d*TREK
データ削減
d*TREK
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: FAB FROM YST9.1 解像度: 2.06→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.951 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.917 / SU B: 4.884 / SU ML: 0.134 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R Free: 0.221 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.286
1556
5 %
RANDOM
Rwork
0.213
-
-
-
obs
0.217
31104
88.4 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK