タイプ: MAR scanner 300 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2010年2月28日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.54179 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.87→25.78 Å / Num. obs: 17327 / % possible obs: 99.7 % / 冗長度: 1.88 % / Rmerge(I) obs: 0.0267 / Rsym value: 0.032 / Net I/σ(I): 20.23
反射 シェル
解像度: 1.87→1.97 Å / 冗長度: 1.87 % / Rmerge(I) obs: 0.166 / Mean I/σ(I) obs: 4.75 / Rsym value: 0.21 / % possible all: 98.3
-
解析
ソフトウェア
名称: REFMAC / バージョン: 5.5.0102 / 分類: 精密化
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.87→25.78 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.938 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.915 / SU B: 3.686 / SU ML: 0.112 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.162 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.26655
879
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.21971
-
-
-
obs
0.22195
16430
99.75 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK