ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB DENZOデータ削減 Show SCALEPACKデータスケーリング Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.004 データ抽出 Show HKL-2000データ収集 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング PHASER位相決定
精密化 解像度 : 1.41→40 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.954 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.945 / SU B : 2.671 / SU ML : 0.051 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.082 / ESU R Free : 0.08 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.236 867 5.1 % RANDOM Rwork 0.216 - - - all 0.217 17245 - - obs 0.217 17088 99.08 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 8.485 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.26 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.23 Å2 0 Å2 3- - - -0.02 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.41→40 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 814 0 0 45 859
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 24) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.013 0.022 854 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.004 0.02 574 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.503 2 1161 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.964 3 1428 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.134 5 104 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg38.325 25.758 33 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.537 15 161 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.129 15 2 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.085 0.2 142 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 909 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 145 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.255 0.2 151 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.178 0.2 531 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.184 0.2 419 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.086 0.2 440 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.107 0.2 32 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.14 0.2 10 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.243 0.2 29 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.178 0.2 7 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.067 1.5 721 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.259 1.5 208 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.212 2 869 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.95 3 401 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.387 4.5 292
LS精密化 シェル 解像度 : 1.41→1.451 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.286 43 - Rwork 0.299 1125 - all - 1168 - obs - - 95.89 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 7) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 2.5872 -3.9311 5.3702 10.2414 0.9464 30.5757 0.0261 -0.4486 -0.3009 -0.2863 0.029 1.0901 -0.409 -2.423 -0.0552 0.1885 -0.046 -0.0292 0.2369 0.0529 0.1076 -11.8438 1.3262 5.3512 2 3.0164 -0.5145 1.0117 14.8312 4.0964 5.1987 0.0429 0.282 -0.1263 -0.786 -0.1885 0.5032 -0.167 0.1709 0.1456 0.0351 0.0062 -0.0202 0.0546 -0.0102 0.0741 -3.2902 -4.0566 12.0616 3 3.7862 0.7749 0.715 5.6967 3.8075 9.4239 -0.0082 -0.1549 0.107 -0.1019 -0.0409 0.1373 -0.1528 -0.095 0.0492 0.0402 -0.0036 -0.0011 0.0623 0.005 0.0815 -6.9297 -3.6399 16.904 4 10.1795 6.0008 0.2507 11.5824 -0.5153 8.5478 -0.4175 0.6482 -0.0428 -0.9155 0.2771 -0.2847 0.1735 0.4555 0.1404 0.161 -0.0487 0.0217 0.12 -0.0043 0.0166 -1.9568 -3.8344 4.1779 5 3.4283 2.8454 -1.0255 7.1349 -2.441 3.8042 0.0324 0.1003 -0.2147 0.007 -0.0131 -0.0911 0.2194 0.2495 -0.0192 0.0365 0.0082 -0.0099 0.0533 -0.0075 0.0636 -1.9222 -10.4465 15.6533 6 6.522 -0.649 3.4571 6.6582 -0.3182 6.2111 0.0643 -0.346 -0.2298 0.5962 -0.1011 0.3127 0.4375 -0.184 0.0367 0.1435 -0.0419 0.0645 0.1067 0.0085 0.068 -7.3767 -8.2201 25.0915 7 15.1923 9.0514 -14.5844 10.0372 -11.6658 17.8758 0.4404 -0.2212 0.2214 0.4499 -0.4322 -0.4154 -0.6053 0.2641 -0.0082 0.0448 -0.0165 -0.0285 0.1096 0.0136 0.1426 7.0899 -0.3956 19.7888
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A244 - 252 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A253 - 262 3 X-RAY DIFFRACTION 2 B263 - 264 4 X-RAY DIFFRACTION 3 B265 - 291 5 X-RAY DIFFRACTION 4 B292 - 300 6 X-RAY DIFFRACTION 5 B301 - 319 7 X-RAY DIFFRACTION 6 B320 - 333 8 X-RAY DIFFRACTION 7 B334 - 345