ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.2 精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング MOLREP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : NATIVE FAB STRUCTURE
解像度 : 2.5→41.3 Å / Rfactor Rfree error : 0.008 / Data cutoff high absF : 137292.07 / Data cutoff low absF : 0 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2663 1213 9.1 % RANDOM Rwork 0.2339 - - - obs 0.2339 11673 87.3 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 37.968 Å2 / ksol : 0.3 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 68 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.173 Å2 0 Å2 -9.683 Å2 2- - 10.76 Å2 0 Å2 3- - - -11.933 Å2
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.37 Å / Luzzati d res low obs : 5 Å / Luzzati sigma a obs : 0.34 Å精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.5→41.3 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3269 0 0 45 3314
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.008581 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.71209 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d28.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.9 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.5→2.66 Å / Rfactor Rfree error : 0.04 / Total num. of bins used : 24 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.36 245 11.1 % Rwork 0.34 1460 - obs - - 78.9 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 CNS_TOPPAR PROTEIN_REP.PARAMCNS_TOPPAR PROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 CNS_TOPPAR WATER_REP.PARAMCNS_TOPPAR WATER.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 TRIS.PARAMX-RAY DIFFRACTION 4 CNS_TOPPAR ION.PARAM