ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.2 精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : NATIVE FAB STRUCTURE
解像度 : 2.4→23.62 Å / Rfactor Rfree error : 0.007 / Data cutoff high absF : 184279.07 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2572 1310 9.1 % RANDOM Rwork 0.2344 - - - obs 0.2344 13136 91.6 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 25.8733 Å2 / ksol : 0.3 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 37 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 3.95 Å2 0 Å2 7.569 Å2 2- - 7.319 Å2 0 Å2 3- - - -11.268 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.36 Å 0.33 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.34 Å 0.45 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.4→23.62 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3256 0 0 149 3405
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.009093 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.7825 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d26.7 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.9 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.4→2.55 Å / Rfactor Rfree error : 0.024 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.34 197 9.6 % Rwork 0.33 1859 - obs - - 86.6 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 CNS_TOPPAR PROTEIN_REP.PARAMCNS_TOPPAR PROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 CNS_TOPPAR WATER_REP.PARAMCNS_TOPPAR WATER.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 TRIS.PARAMX-RAY DIFFRACTION 4 CNS_TOPPAR ION.PARAM