ソフトウェア 名称 バージョン 分類 BUSTER2.10.2精密化 XDSデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング MOLREP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 4IMK解像度 : 2.75→23.99 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.892 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.812 / Rfactor Rfree error : 0 / SU R Cruickshank DPI : 1.404 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / SU R Blow DPI : 3.817 / SU Rfree Blow DPI : 0.362 / SU Rfree Cruickshank DPI : 0.364 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.268 717 5.05 % RANDOM Rwork 0.186 - - - obs 0.19 14204 98.2 % -
原子変位パラメータ Biso mean : 56.44 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 25.2435 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 7.8012 Å2 0 Å2 3- - - -33.0447 Å2
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.36 Å精密化ステップ サイクル : 1 / 解像度 : 2.75→23.99 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3337 0 26 73 3436
拘束条件 大きな表を表示 (6 x 18) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal 数 Restraint function Weight X-RAY DIFFRACTION t_bond_d0.01 3440 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_angle_deg1.29 4674 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_dihedral_angle_d1154 SINUSOIDAL2 X-RAY DIFFRACTION t_incorr_chiral_ctX-RAY DIFFRACTION t_pseud_angleX-RAY DIFFRACTION t_trig_c_planes74 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_gen_planes497 HARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_it3440 HARMONIC20 X-RAY DIFFRACTION t_nbdX-RAY DIFFRACTION t_omega_torsion3.43 X-RAY DIFFRACTION t_other_torsion20.75 X-RAY DIFFRACTION t_improper_torsionX-RAY DIFFRACTION t_chiral_improper_torsion453 SEMIHARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_sum_occupanciesX-RAY DIFFRACTION t_utility_distanceX-RAY DIFFRACTION t_utility_angleX-RAY DIFFRACTION t_utility_torsionX-RAY DIFFRACTION t_ideal_dist_contact3723 SEMIHARMONIC4
LS精密化 シェル 解像度 : 2.75→2.97 Å / Rfactor Rfree error : 0 / Total num. of bins used : 7 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.352 153 5.35 % Rwork 0.231 2708 - all 0.237 2861 - obs - - 97.75 %