ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB DENZOデータ削減 Show SCALEPACKデータスケーリング Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.004 データ抽出 Show HKL-2000データ収集 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング PHASER位相決定
精密化 解像度 : 1.407→38.35 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.965 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.943 / SU B : 2.09 / SU ML : 0.041 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.066 / ESU R Free : 0.072 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.219 959 5.1 % RANDOM Rwork 0.18 - - - all 0.182 19177 - - obs 0.182 18669 97.55 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 7.187 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.88 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.28 Å2 0 Å2 3- - - -0.61 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.407→38.35 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 786 0 0 108 894
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 24) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.014 0.022 815 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 542 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.414 2.002 1112 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.933 3 1357 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.313 5 104 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg44.59 26.452 31 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg10.92 15 152 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg19.613 15 1 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.09 0.2 138 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 871 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 134 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.226 0.2 159 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.169 0.2 543 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.179 0.2 409 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.088 0.2 404 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.155 0.2 68 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.319 0.2 8 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.208 0.2 17 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.083 0.2 17 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.002 1.5 698 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.211 1.5 202 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.101 2 838 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.992 3 372 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.41 4.5 271
LS精密化 シェル 解像度 : 1.407→1.444 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.309 48 - Rwork 0.267 1082 - all - 1130 - obs - - 80.14 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 8.0348 1.6473 3.8783 9.8551 1.621 12.987 0.008 -0.3047 0.5355 0.6048 0.0755 0.0967 -0.7601 -0.1965 -0.0835 0.1798 0.0452 0.0661 0.0664 0.0122 0.1159 -8.6028 4.0246 25.9362 2 3.4499 -1.2827 1.6814 3.4578 -1.4159 4.6208 0.0042 -0.0199 -0.156 0.0696 0.1142 0.0707 0.1264 0.0217 -0.1184 0.0853 -0.0008 0.0076 0.0255 0.0072 0.0358 -2.003 -7.1191 21.0226 3 6.1885 -4.0247 11.0113 5.5448 -6.5883 19.7046 -0.0252 -0.2797 -0.0907 -0.0817 0.1727 0.156 -0.2669 -0.744 -0.1475 0.0734 0.014 -0.0026 0.1019 0.0282 0.024 -11.1539 2.3821 8.0153 4 1.5597 -0.1172 0.388 1.3195 -0.604 5.0433 -0.0457 -0.1209 -0.015 0.0885 0.0577 0.0703 -0.0296 -0.0891 -0.0121 0.102 0.0112 0.0012 0.0364 -0.0052 0.0648 -4.7844 -2.5789 23.1018 5 1.0308 0.046 -0.0382 2.7678 -0.7505 2.2683 -0.0384 0.1278 -0.039 -0.2726 -0.0014 -0.1007 0.0665 0.071 0.0399 0.0986 -0.0035 0.0098 0.0328 -0.0096 0.04 0.5622 -5.7337 13.5866 6 50.4488 5.4008 -6.6107 18.6084 -9.0044 20.6582 -0.0218 1.4485 -2.5291 -0.2093 0.0589 0.7332 1.2126 -1.9318 -0.0371 0.1784 -0.1539 -0.0486 0.2275 -0.0732 0.1901 -11.2361 -11.5497 10.162
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A244 - 255 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A256 - 262 3 X-RAY DIFFRACTION 2 B263 - 270 4 X-RAY DIFFRACTION 3 B271 - 276 5 X-RAY DIFFRACTION 4 B277 - 301 6 X-RAY DIFFRACTION 5 B302 - 334 7 X-RAY DIFFRACTION 6 B335 - 343