ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB DENZOデータ削減 Show SCALEPACKデータスケーリング Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.004 データ抽出 Show HKL-2000データ収集 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング PHASER位相決定
精密化 解像度 : 1.48→37.8 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.957 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.949 / SU B : 2.666 / SU ML : 0.051 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.097 / ESU R Free : 0.091 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.234 716 5 % RANDOM Rwork 0.215 - - - all 0.216 16014 - - obs 0.216 14388 90.52 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 12.043 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.93 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.74 Å2 0 Å2 3- - - -0.19 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.48→37.8 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 746 0 0 96 842
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 24) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.022 780 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 532 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.685 2.005 1064 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg1.514 3 1329 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.73 5 99 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.872 25.517 29 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg13.043 15 151 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg26.975 15 2 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.184 0.2 131 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 826 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 132 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.241 0.2 132 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.17 0.2 527 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.182 0.2 390 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.091 0.2 406 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.128 0.2 56 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.085 0.2 3 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.128 0.2 14 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.138 0.2 9 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.029 1.5 660 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.264 1.5 187 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.13 2 794 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.071 3 366 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.572 4.5 267
LS精密化 シェル 解像度 : 1.48→1.521 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.694 47 - Rwork 0.656 929 - all - 976 - obs - - 84.21 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 2.9295 -0.9792 -0.2614 3.3152 1.0448 3.1053 0.0258 -0.094 -0.1722 0.2227 0.1492 -0.1175 0.2086 0.0565 -0.1751 0.0435 0.013 -0.0461 -0.0005 -0.0088 0.0355 -9.4238 4.207 -8.1722 2 1.4629 -1.1066 -2.0047 2.188 2.0306 6.0018 0.0106 -0.0435 -0.0238 -0.078 0.1226 -0.0846 0.1273 0.1492 -0.1332 0.0369 -0.0039 -0.0151 0.0061 -0.0087 0.0235 -10.2596 0.3965 -16.8657 3 6.5487 -0.3346 -0.5798 1.8814 -0.4506 2.7353 -0.0756 -0.0946 0.081 0.0598 0.1768 0.0892 0.0485 -0.0817 -0.1013 0.0441 0.0136 -0.0038 0.0507 0.0171 0.0342 -14.0329 5.1753 -1.5502 4 4.7589 -1.4235 2.5747 1.6304 -1.7043 3.3894 -0.1298 0.0159 0.1425 0.0314 -0.0126 -0.1224 -0.1828 0.1441 0.1425 0.0425 -0.0025 -0.0207 -0.0112 -0.0128 0.0295 -8.0693 9.8799 -7.9703 5 2.2995 -0.4328 -0.9384 3.7827 0.7567 4.9885 0.1262 0.1416 0.044 -0.2977 -0.1547 0.2176 -0.1137 -0.1986 0.0285 0.0293 0.0027 -0.0507 -0.0004 -0.0036 0.0267 -17.8855 4.7628 -19.6132 6 22.3532 -1.7537 13.1873 10.5475 -8.5172 20.2645 0.155 0.4797 0.9981 0.1761 -0.7534 -0.4208 -0.0783 1.9771 0.5984 0.0185 -0.0824 0.03 0.1578 0.063 0.0107 -4.4322 10.5618 -20.0053
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA248 - 265 40 - 57 2 X-RAY DIFFRACTION 2 AA266 - 287 58 - 79 3 X-RAY DIFFRACTION 3 AA288 - 295 80 - 87 4 X-RAY DIFFRACTION 4 AA296 - 312 88 - 104 5 X-RAY DIFFRACTION 5 AA313 - 335 105 - 127 6 X-RAY DIFFRACTION 6 AA336 - 341 128 - 133