プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.918409 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.72→49.16 Å / Num. obs: 33613 / % possible obs: 99.9 % / 冗長度: 12.1 % / Biso Wilson estimate: 52.2 Å2 / Rrim(I) all: 0.187 / Net I/σ(I): 14.09
反射 シェル
解像度: 2.72→2.88 Å / Mean I/σ(I) obs: 2.04 / Rrim(I) all: 1.29 / % possible all: 99.99
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0073
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: Preliminary model obtained from SAD experiment 解像度: 2.72→48.15 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.939 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.896 / SU B: 0.002 / SU ML: 0 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.217 / ESU R Free: 0.267 / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS