タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2014年3月17日
放射
モノクロメーター: NiFILTER / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9791 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.77→50 Å / Num. obs: 27813
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
PHENIX
モデル構築
REFMAC
5.7.0032
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.77→32.42 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.965 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.946 / SU B: 5.076 / SU ML: 0.073 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.163 / ESU R Free: 0.112 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2172
1396
5 %
RANDOM
Rwork
0.16315
-
-
-
obs
0.16588
26399
97.81 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK