ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB DENZOデータ削減 Show SCALEPACKデータスケーリング Show PHASER2.3.0位相決定 Show REFMAC5.8.0049精密化 Show PDB_EXTRACT3.14 データ抽出 Show MacromolecularCrystallography Data Collector software (MxDC)データ収集 HKL-2000データ削減
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 4ODV解像度 : 2.72→65.27 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.904 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.891 / WRfactor Rfree : 0.2528 / WRfactor Rwork : 0.2276 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 1 / FOM work R set : 0.8051 / SU B : 40.862 / SU ML : 0.364 / SU R Cruickshank DPI : 0.4541 / SU Rfree : 0.4822 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.482 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : WITH TLS ADDEDRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2566 833 5.1 % RANDOM Rwork 0.2313 - - - obs 0.2325 16440 86.61 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso max : 105.39 Å2 / Biso mean : 53.3046 Å2 / Biso min : 20 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.22 Å2 1.13 Å2 0.96 Å2 2- - 4.59 Å2 0.69 Å2 3- - - -2.18 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.72→65.27 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6534 0 8 16 6558
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.011 0.02 6691 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 6128 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.613 1.957 9106 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg2.149 3 14181 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.863 5 843 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg33.094 23.876 258 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg19.648 15 1091 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg18.083 15 30 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.085 0.2 1046 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.021 7498 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.004 0.02 1492 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.364 1.304 3394 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.364 1.303 3392 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.584 1.954 4229
Refine LS restraints NCS Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / タイプ : interatomic distance / Weight position : 0.05
Ens-ID Dom-ID Auth asym-ID 数 Rms dev position (Å)1 1 L10876 0.18 1 2 B10876 0.18 2 1 H10858 0.13 2 2 A10858 0.13
LS精密化 シェル 解像度 : 2.716→2.786 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.351 30 - Rwork 0.318 496 - all - 526 - obs - - 36.83 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 4.1057 -1.1719 -5.5402 2.5531 1.994 7.9061 -0.2181 0.2749 -0.242 0.1722 -0.0617 0.3304 0.7832 -0.4278 0.2798 0.6253 -0.0952 -0.126 0.0371 0.0438 0.3803 -8.7539 -17.1494 -4.9234 2 1.8359 -0.5172 -2.1769 3.2879 1.9665 7.4033 0.2933 -0.0127 0.2897 0.2308 -0.2233 0.0204 0.0521 0.032 -0.07 0.1049 -0.0228 0.0144 0.0223 0.0255 0.369 -2.812 -0.308 -4.8967 3 0.9677 -0.299 -0.6416 1.9247 0.8337 8.6252 -0.0816 0.2504 0.2323 -0.1898 0.0429 0.0512 -0.8598 -0.265 0.0387 0.3394 -0.024 -0.0517 0.0757 0.0814 0.5345 -38.0657 42.8366 19.6875 4 1.5814 -0.0806 -0.7769 1.5822 -0.5031 8.4442 -0.0959 0.1413 0.1354 -0.3904 0.0144 0.1108 0.0691 0.0746 0.0815 0.1149 -0.0158 -0.0351 0.0165 0.0325 0.3734 -33.0601 28.7573 29.6754
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 L1 - 214 2 X-RAY DIFFRACTION 2 H2 - 221 3 X-RAY DIFFRACTION 3 B1 - 214 4 X-RAY DIFFRACTION 4 A2 - 219