ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.4.0069精密化 HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 15C8解像度 : 2.78→91.67 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.937 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.905 / SU B : 27.611 / SU ML : 0.267 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.357 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.24028 644 4.9 % RANDOM Rwork 0.19464 - - - obs 0.19685 13033 97.21 % - all - 13033 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 53.305 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.41 Å2 0.21 Å2 0 Å2 2- - 0.41 Å2 0 Å2 3- - - -0.62 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.78→91.67 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3272 0 28 51 3351
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.008 0.022 3382 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 2272 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.207 1.953 4600 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg1.408 3.003 5554 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.508 5 421 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg28.858 24.046 131 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.284 15 537 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg14.022 15 13 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.054 0.2 522 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.021 3705 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 667 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.338 1.5 2112 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.033 1.5 852 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.634 2 3447 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it0.663 3 1270 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.186 4.5 1153 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.782→2.854 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.363 48 - Rwork 0.292 792 - obs - - 83.58 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.5256 0.1682 -0.7385 0.8256 -0.9125 1.7457 0.0287 -0.0253 -0.0225 -0.0572 0.1167 -0.0447 -0.0726 -0.1547 -0.1454 -0.0444 0.0241 0.0004 0.0376 0.0018 0.0157 16.0552 53.4339 9.6372 2 3.3738 1.5377 1.9182 2.3728 0.9384 1.0931 -0.0519 0.1397 -0.5754 0.0183 0.187 -0.1845 -0.054 0.2004 -0.1351 -0.1379 -0.1471 0.0084 0.122 0.0086 0.0506 -1.2218 26.2472 12.2692 3 1.8695 0.4086 0.6843 1.2249 1.0011 1.1042 -0.0409 0.121 0.102 -0.0397 0.0166 0.0648 -0.0891 -0.181 0.0243 -0.0741 0.0735 0.0244 0.1391 0.0493 -0.0438 -2.2297 60.0152 -1.8044 4 0.8986 0.5648 -0.1018 2.4225 -1.804 2.2084 0.1189 -0.076 -0.1255 0.129 -0.2164 -0.0907 -0.1654 -0.1968 0.0975 -0.154 -0.226 -0.0132 0.1822 0.0665 -0.0279 -16.0281 31.3697 17.1968
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 H1 - 114 2 X-RAY DIFFRACTION 2 H115 - 227 3 X-RAY DIFFRACTION 3 L1 - 107 4 X-RAY DIFFRACTION 4 L108 - 211