ソフトウェア 名称 分類 HKL-2000データ収集 SCALEPACKデータスケーリング SHELXS位相決定 SHELXL-97精密化 HKL-2000データ削減
精密化 構造決定の手法 : フーリエ合成 / 解像度 : 1.04→40 Å / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 Selection details Rfree 0.1774 2981 random Rwork 0.1361 - - all 0.1477 - - obs 0.1477 29814 -
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.04→40 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 708 0 179 887
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION o_bond_d0.007 X-RAY DIFFRACTION o_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION o_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION o_angle_d0.023 X-RAY DIFFRACTION o_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION o_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION o_angle_degX-RAY DIFFRACTION o_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION o_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION o_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION o_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION o_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION o_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION o_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION o_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION o_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION o_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION o_scbond_itX-RAY DIFFRACTION o_scangle_it
ソフトウェア *PLUS
名称 : SHELXL / バージョン : 97 / 分類 : refinement拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ X-RAY DIFFRACTION s_bond_dX-RAY DIFFRACTION s_angle_dX-RAY DIFFRACTION s_angle_degX-RAY DIFFRACTION s_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION s_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION s_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION s_scbond_itX-RAY DIFFRACTION s_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION s_scangle_it
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.319