ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1 精密化 MOSFLMデータ削減 CCP4データスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1BJ5解像度 : 2.4→32.8 Å / Rfactor Rfree error : 0.007 / Data cutoff high absF : 1746726 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 詳細 : BULK SOLVENT MODEL USED RESIDUES ASP 1, ALA 2 AND LEU 585 ARE DISORDERED AND HAVE NOT BEEN INCLUDED IN THE MODEL.Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.242 1229 4.8 % RANDOM Rwork 0.209 - - - obs 0.209 25527 95.2 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 43.9468 Å2 / ksol : 0.293715 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 58.2 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 9.51 Å2 0 Å2 4.77 Å2 2- - 0.49 Å2 0 Å2 3- - - -10 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.38 Å 0.32 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.46 Å 0.38 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.4→32.8 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 4519 0 129 24 4672
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.008 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d23.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.91 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.41 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2.39 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it8.95 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it11.19 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.4→2.55 Å / Rfactor Rfree error : 0.026 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.366 195 4.6 % Rwork 0.318 4048 - obs - - 96.7 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 OLA.PAROLA.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 WATER.PARAMWATER.TOP
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 1 / 分類 : refinement拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg23.3 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.91
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor obs : 0.318