ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.1.24精密化 DENZOデータ削減 CCP4(SCALA)データスケーリング AMoRE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : Lma-PBP (native)
解像度 : 1.6→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.964 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.953 / SU B : 1.633 / SU ML : 0.057 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(I) : 4.8 / ESU R : 0.095 / ESU R Free : 0.096 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.20843 1565 5 % RANDOM Rwork 0.17433 - - - all 0.176 37118 - - obs 0.17602 29762 84.4 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 19.55 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.34 Å2 -0.02 Å2 -0.89 Å2 2- - 0.47 Å2 0.21 Å2 3- - - -0.03 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.6→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1821 0 54 243 2118
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.022 1931 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.004 0.02 1683 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.762 2.006 2611 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg2.853 3 3943 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.872 5 237 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.101 0.2 285 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.009 0.02 2143 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.016 0.02 382 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.216 0.2 509 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.248 0.2 2153 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.101 0.2 1139 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.161 0.2 153 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.132 0.2 11 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.36 0.2 55 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.193 0.2 18 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.899 1.5 1195 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.635 2 1927 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.564 3 736 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.945 4.5 684
LS精密化 シェル 解像度 : 1.6→1.641 Å / Total num. of bins used : 20 / Rfactor 反射数 Rfree 0.247 82 Rwork 0.183 1355
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.603 -0.0121 0.5237 0.6511 -0.273 0.8433 0.0264 -0.0568 -0.0389 -0.0036 -0.0419 -0.0154 0.0009 -0.0545 0.0155 0.0314 -0.0059 0.0247 0.03 -0.0103 0.0388 -14.504 10.923 -10.406 2 1.4473 0.02 0.5065 1.1453 -0.0849 0.7601 -0.0129 0.0779 -0.0008 -0.0318 -0.0014 -0.0398 0.0158 0.0748 0.0143 0.023 0.0008 0.0276 0.0352 -0.0031 0.0336 4.875 -10.812 8.574
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA0 - 118 11 - 129 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB0 - 118 11 - 129
精密化 *PLUS
最高解像度 : 1.6 Å / 最低解像度 : 20 Å / Rfactor Rfree : 0.174 / Rfactor Rwork : 0.208 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_d0.015 X-RAY DIFFRACTION r_angle_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_deg1.76
LS精密化 シェル *PLUS
最高解像度 : 1.6 Å / 最低解像度 : 1.64 Å