ソフトウェア 名称 分類 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング CNS精密化 CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : フーリエ合成開始モデル : pdb entry 1AK5解像度 : 2.15→29.61 Å / Rfactor Rfree error : 0.006 / Data cutoff high absF : 3426655.95 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.246 1768 5.2 % RANDOM Rwork 0.224 - - - all - 35625 - - obs - 33857 98.3 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 41.9441 Å2 / ksol : 0.384288 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 36.1 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0 Å2 0 Å2 3- - - 0 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.3 Å 0.26 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.28 Å 0.22 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.15→29.61 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2635 0 69 164 2868
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.006 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.2 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d22.9 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.77 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it0.78 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.41 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it0.9 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it1.48 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.15→2.28 Å / Rfactor Rfree error : 0.017 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.284 270 5 % Rwork 0.258 5092 - obs - - 95.8 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 PARAM.GNSOLXMPG.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 CIS_PEPTIDE.PARAMNAD_PROD.TOPX-RAY DIFFRACTION 4 XMPG.PARION.TOPX-RAY DIFFRACTION 5 NAD_PROD.PARTOPH.GNSOL
精密化 *PLUS
最低解像度 : 20 Å / Rfactor Rwork : 0.223 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.007 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg23 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.8