プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9796 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.64→98.4 Å / % possible obs: 95.1 % / 冗長度: 11.8 % / Net I/σ(I): 15.5
反射 シェル
解像度: 1.64→1.68 Å / Rmerge(I) obs: 0.2 / Mean I/σ(I) obs: 1.2 / % possible all: 90.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0135
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
SHELXDE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.64→98.04 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.951 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.939 / SU B: 3.044 / SU ML: 0.055 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.026 / ESU R Free: 0.024 / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS