- PDB-5fuz: Extending the half-life of a Fab fragment through generation of a... -
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基本情報
登録情報
データベース: PDB / ID: 5fuz
タイトル
Extending the half-life of a Fab fragment through generation of a humanised anti-Human Serum Albumin (HSA) Fv domain: an investigation into the correlation between affinity and serum half-life
要素
645 FAB, HEAVY CHAIN
645 FAB, LIGHT CHAIN
キーワード
IMMUNE SYSTEM / ANTI-ALBUMIN / FAB FRAGMENT / SERUM HALF-LIFE / FCRN / HUMAN SERUM ALBUMIN
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9795 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.68→30 Å / Num. obs: 18151 / % possible obs: 99.5 % / Observed criterion σ(I): 3 / 冗長度: 21.5 % / Biso Wilson estimate: 44.01 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.12 / Net I/σ(I): 23
反射 シェル
解像度: 2.68→2.82 Å / 冗長度: 22.2 % / Rmerge(I) obs: 0.36 / Mean I/σ(I) obs: 10.1 / % possible all: 99.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
CNS
1.3
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: IN-HOUSE FAB 解像度: 2.68→30 Å / Rfactor Rfree error: 0.006 / Data cutoff high absF: 10000 / Data cutoff low absF: 0 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 詳細: CHAIN L RESIDUE 217, AND CHAIN H RESIDUES 223-233 ARE DISORDERED
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2509
1790
9.8 %
RANDOM
Rwork
0.2119
-
-
-
obs
0.2119
18142
99.4 %
-
溶媒の処理
Bsol: 24.7299 Å2 / ksol: 0.38 e/Å3
原子変位パラメータ
Biso mean: 31.2 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
5.772 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
5.772 Å2
0 Å2
3-
-
-
-11.545 Å2
Refine analyze
Luzzati coordinate error obs: 0.3588 Å
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.68→30 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
3299
0
0
37
3336
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d
0.006779
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg
1.42054
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_mcbond_it
X-RAY DIFFRACTION
c_mcangle_it
X-RAY DIFFRACTION
c_scbond_it
X-RAY DIFFRACTION
c_scangle_it
LS精密化 シェル
解像度: 2.68→2.78 Å / Rfactor Rfree error: 0.027 / Total num. of bins used: 10