モノクロメーター: Si - 111 / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.91841 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.39→25.14 Å / Num. obs: 97037 / % possible obs: 98.7 % / Rmerge(I) obs: 0.049
反射 シェル
解像度: 1.39→1.47 Å / 冗長度: 4.1 % / Rmerge(I) obs: 0.423 / % possible all: 98
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
MAR345
データ収集
MOLREP
位相決定
REFMAC
5.6.0117
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.4→25 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.966 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.949 / SU B: 1.98 / SU ML: 0.036 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.059 / ESU R Free: 0.061 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2126
1906
2 %
RANDOM
Rwork
0.16225
-
-
-
obs
0.16329
93091
98.51 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK