ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB SCALEPACKデータスケーリング Show BUSTER-TNT精密化 Show PDB_EXTRACT3.11 データ抽出 Show ADSCQuantumデータ収集 DENZOデータ削減 BUSTER2.8.0位相決定 BUSTER2.8.0精密化
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.75→20.66 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.9556 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.9349 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0.11 / SU R Cruickshank DPI : 0.096 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2016 1316 5.05 % RANDOM Rwork 0.1738 - - - obs 0.1752 26034 - -
原子変位パラメータ Biso max : 112.23 Å2 / Biso mean : 26.3867 Å2 / Biso min : 10.12 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -1.9207 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -1.9207 Å2 0 Å2 3- - - 3.8414 Å2
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.174 Å精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.75→20.66 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1552 0 10 238 1800
拘束条件 大きな表を表示 (6 x 17) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ 数 Restraint function Weight Dev ideal X-RAY DIFFRACTION t_dihedral_angle_d557 SINUSOIDAL2 X-RAY DIFFRACTION t_trig_c_planes37 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_gen_planes243 HARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_it1664 HARMONIC20 X-RAY DIFFRACTION t_nbdX-RAY DIFFRACTION t_improper_torsionX-RAY DIFFRACTION t_pseud_angleX-RAY DIFFRACTION t_chiral_improper_torsion225 SEMIHARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_sum_occupanciesX-RAY DIFFRACTION t_utility_distanceX-RAY DIFFRACTION t_utility_angleX-RAY DIFFRACTION t_utility_torsionX-RAY DIFFRACTION t_ideal_dist_contact2063 SEMIHARMONIC4 X-RAY DIFFRACTION t_bond_d1664 HARMONIC2 0.01 X-RAY DIFFRACTION t_angle_deg2265 HARMONIC2 1.07 X-RAY DIFFRACTION t_omega_torsion4.26 X-RAY DIFFRACTION t_other_torsion15.98
LS精密化 シェル 解像度 : 1.75→1.82 Å / Total num. of bins used : 13 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.297 130 4.6 % Rwork 0.2208 2695 - all 0.2244 2825 -