プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.15→50 Å / Num. all: 40048 / Num. obs: 39768 / % possible obs: 99.3 % / 冗長度: 9.8 % / Rmerge(I) obs: 0.106 / Net I/σ(I): 33.5
反射 シェル
解像度: 1.15→1.17 Å / 冗長度: 4.6 % / Rmerge(I) obs: 0.494 / Mean I/σ(I) obs: 4.9 / % possible all: 97.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
PHENIX
1.6.4_486
精密化
PDB_EXTRACT
3.1
データ抽出
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
SHARP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.15→14.057 Å / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0 / FOM work R set: 0.9638 / SU ML: 0.13 / σ(F): 2.38 / 位相誤差: 8.44 / 立体化学のターゲット値: ML / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1251
1881
4.97 %
RANDOM
Rwork
0.1113
-
-
-
obs
0.112
37842
94.6 %
-
all
-
40002
-
-
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 77.98 Å2 / ksol: 0.32 e/Å3