ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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SCALA | 3.3.16データスケーリング | | MOLREP | | 位相決定 | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.1 | データ抽出 | | Blu-Ice | | データ収集 | | XDS | | データ削減 | | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: 3RGR 解像度: 1.47→38.32 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.965 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.953 / WRfactor Rfree: 0.2106 / WRfactor Rwork: 0.1767 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.2 / FOM work R set: 0.8433 / SU B: 3.692 / SU ML: 0.061 / SU R Cruickshank DPI: 0.0813 / SU Rfree: 0.0824 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 1 / ESU R Free: 0.082 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.2181 | 3852 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.1859 | - | - | - |
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all | 0.1876 | 77108 | - | - |
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obs | 0.1876 | 77108 | 97.97 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 98.98 Å2 / Biso mean: 27.0688 Å2 / Biso min: 7.94 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.1 Å2 | 0 Å2 | -0.18 Å2 |
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2- | - | 0.8 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -0.54 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.47→38.32 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 3955 | 0 | 45 | 214 | 4214 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.016 | 0.021 | 4550 | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d0.002 | 0.02 | 3073 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.521 | 1.95 | 6234 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg0.934 | 3.001 | 7452 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg6.12 | 5 | 604 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg34.33 | 23.915 | 235 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg15.354 | 15 | 737 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg14.645 | 15 | 47 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.095 | 0.2 | 642 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.007 | 0.021 | 5427 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other0.002 | 0.02 | 952 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.934 | 1.5 | 2838 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_other0.256 | 1.5 | 1146 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.652 | 2 | 4611 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it2.354 | 3 | 1712 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it3.719 | 4.5 | 1621 | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.47→1.503 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.403 | 253 | - |
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Rwork | 0.391 | 4448 | - |
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all | - | 4701 | - |
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obs | - | - | 81.11 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 1.772 | 0.0553 | 0.244 | 0.3341 | -0.0847 | 1.2311 | 0.0113 | -0.2194 | 0.0284 | 0.077 | -0.0406 | -0.0335 | -0.028 | -0.0232 | 0.0293 | 0.0265 | 0.0049 | 0.01 | 0.1349 | -0.0134 | 0.0623 | -11.582 | -36.559 | 13.932 | 2 | 1.1569 | 0.1973 | -0.0766 | 0.3579 | 0.063 | 0.8772 | -0.0417 | 0.174 | -0.0134 | -0.067 | 0.0114 | 0.0165 | 0.0032 | -0.1376 | 0.0302 | 0.0199 | -0.0032 | 0.0167 | 0.1461 | -0.0119 | 0.0551 | -20.273 | -39.897 | -7.513 | 3 | 1.4689 | 0.195 | -0.4322 | 0.9614 | 0.039 | 1.581 | 0.0516 | -0.2087 | -0.0631 | 0.133 | -0.0406 | -0.0703 | 0.0701 | 0.0209 | -0.011 | 0.0327 | 0.0152 | 0.0054 | 0.183 | 0.0213 | 0.0482 | -60.874 | -34.147 | -24.256 | 4 | 1.4548 | 0.7016 | -0.9956 | 2.8416 | -1.2144 | 2.3362 | -0.076 | 0.408 | 0.0894 | -0.3661 | 0.2818 | 0.2605 | 0.1927 | -0.5864 | -0.2058 | 0.0506 | -0.0274 | -0.0309 | 0.3317 | 0.0527 | 0.0587 | -67.783 | -32.484 | -46.225 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A2 - 130 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B2 - 131 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 3 | D1 - 127 | 4 | X-RAY DIFFRACTION | 4 | F1 - 130 | | | | |
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