モノクロメーター: Si(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.979 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.8→19.946 Å / Num. obs: 91151 / % possible obs: 99.8 % / Observed criterion σ(I): 13 / 冗長度: 6.2 % / Rmerge(I) obs: 0.132 / Net I/σ(I): 13
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
PHASER
位相決定
REFMAC
5.5.0102
精密化
DENZO
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.8→19.946 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.949 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.929 / SU B: 4.206 / SU ML: 0.06 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.087 / ESU R Free: 0.091 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.21411
4193
5 %
RANDOM
Rwork
0.18187
-
-
-
obs
0.18345
-
99.82 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK