ソフトウェア 名称 バージョン 分類 MAR345データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.5.0072精密化 XDSデータ削減 XSCALEデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 1MFA解像度 : 2.05→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.947 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.933 / SU B : 6.062 / SU ML : 0.077 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.145 / ESU R Free : 0.13 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.19669 986 5.1 % RANDOM Rwork 0.17046 - - - obs 0.17181 18215 99.99 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 18.101 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.1 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.1 Å2 0 Å2 3- - - -0.21 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.05→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1649 0 13 155 1817
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.021 1693 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.373 1.953 2310 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.96 5 221 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg32.708 24.714 70 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg10.959 15 248 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg23.019 15 10 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.109 0.2 263 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.021 1297 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.908 1.5 1106 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.765 2.5 1776 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.315 3.5 587 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it5.602 10 534 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.05→2.103 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.245 69 - Rwork 0.172 1304 - obs - - 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.2906 -0.1871 0.2281 0.8235 0.257 0.4461 0.0483 0.0348 -0.0075 -0.0109 -0.0361 0.0004 0.0293 0.0458 -0.0122 0.0453 0.012 0.0038 0.0429 -0.0034 0.038 8.4439 36.2888 -6.7775 2 0.5199 0.2977 0.0633 1.7333 -0.4349 0.8523 -0.0716 -0.0624 0.0215 0.0058 0.1273 0.0471 0.1066 0.049 -0.0557 0.0422 0.0394 0.002 0.0462 0.0055 0.0281 16.4807 30.6281 11.4219
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A-1 - 113 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B3 - 111