ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.2 精密化 HKL-2000データ削減 SCALAデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.9→8 Å / Rfactor Rfree error : 0.01 / Data cutoff high absF : 57338.16 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 詳細 : BULK SOLVENT MODEL USEDRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.265 740 10.9 % RANDOM Rwork 0.224 - - - obs 0.224 6797 86.8 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 71.3963 Å2 / ksol : 0.35 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 17.9 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 3.73 Å2 0.12 Å2 -0.11 Å2 2- - 0.15 Å2 0.38 Å2 3- - - -3.88 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.32 Å 0.25 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.43 Å 0.28 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.9→8 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 808 0 114 922
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.004 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg0.8 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d17.4 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.36 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 1.9→2.02 Å / Rfactor Rfree error : 0.043 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.404 90 11.1 % Rwork 0.341 719 - obs - - 61.1 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 dna-rna_rep.par dna-rna.top X-RAY DIFFRACTION 2 X-RAY DIFFRACTION 3 &_1_PARAMETER_INFILE_3