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基本情報
登録情報
データベース: PDB / ID: 2y36
タイトル
Crystal structure analysis of the anti-(4-hydroxy-3-nitrophenyl)- acetyl murine germline antibody BBE6.12H3 Fab fragment in complex with a phage display derived dodecapeptide DLWTTAIPTIPS
要素
(ANTI-NP MURINE GERMLINE MONOCLONAL ANTIBODY BBE6.12H3) x 2
DODECAPEPTIDE (DLWTTAIPTIPS)
キーワード
IMMUNE SYSTEM / BETA-SANDWICH IMMUNOGLOBULIN FOLD / ANTIGEN BINDING / SECRETED PROTEIN
タイプ: MARMOSAIC 225 mm CCD / 検出器: CCD / 日付: 2009年8月28日 / 詳細: BENT COLLIMATING MIRROR AND TOROID
放射
モノクロメーター: SI(111) MONOCHROMATOR / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9537 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.7→50 Å / Num. obs: 11098 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 5.1 % / Biso Wilson estimate: 28.3 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.07 / Net I/σ(I): 11.3
反射 シェル
解像度: 2.7→8.5 Å / 冗長度: 5.1 % / Rmerge(I) obs: 0.28 / Mean I/σ(I) obs: 4.1 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
CNS
1.2
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
MOLREP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: NATIVE FAB 解像度: 2.7→50 Å / Rfactor Rfree error: 0.008 / Data cutoff high absF: 1553445.18 / Data cutoff low absF: 0 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: IN CHAIN H, RESIDUES 136-140 COULD NOT BE MODELLED OWING TO MISSING ELECTRON DENSITY. IN CHAIN P, SIDECHAINS OF RESIDUES 9, 11, AND 12 COULD NOT BE MODELLED OWING TO MISSING ELECTRON DENSITY.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2477
1081
9.7 %
RANDOM
Rwork
0.2305
-
-
-
obs
0.2305
9995
90.1 %
-
溶媒の処理
溶媒モデル: FLAT / Bsol: 45.0508 Å2 / ksol: 0.4 e/Å3
原子変位パラメータ
Biso mean: 42.4 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-12.165 Å2
0 Å2
-1.132 Å2
2-
-
26.388 Å2
0 Å2
3-
-
-
-14.223 Å2
Refine analyze
Free
Obs
Luzzati coordinate error
0.4 Å
0.34 Å
Luzzati d res low
-
5 Å
Luzzati sigma a
0.46 Å
0.4 Å
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.7→50 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
3294
0
0
99
3393
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d
0.009918
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg
1.96434
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d
28.5
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d
1.3
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_mcbond_it
X-RAY DIFFRACTION
c_mcangle_it
X-RAY DIFFRACTION
c_scbond_it
X-RAY DIFFRACTION
c_scangle_it
LS精密化 シェル
解像度: 2.7→2.87 Å / Rfactor Rfree error: 0.026 / Total num. of bins used: 6