ソフトウェア 名称 バージョン 分類 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング PHASES位相決定 CNS0.5 精密化
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 2.8→20 Å / Rfactor Rfree error : 0.015 / Data cutoff high rms absF : 464034.24 / Isotropic thermal model : GROUP / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.276 350 10.7 % RANDOM Rwork 0.198 - - - all - 3275 - - obs - 3275 89.7 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 42.68 Å2 / ksol : 0.278 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 55.3 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 6.72 Å2 10.75 Å2 0 Å2 2- - 6.72 Å2 0 Å2 3- - - -13.4 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.46 Å 0.3 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.52 Å 0.35 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.8→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 899 0 0 0 899
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.006 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d25.7 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.85 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.8→2.97 Å / Rfactor Rfree error : 0.048 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.344 51 9.8 % Rwork 0.276 468 - obs - - 89.8 %
Xplor file Serial no : 1 / Param file : PROTEIN_REP.PARAM / Topol file : PROTEIN.TOPソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.5 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
Rfactor obs : 0.198 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg25.7 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.85
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor obs : 0.276