解像度: 1.95→50 Å / Num. all: 7120 / Num. obs: 6907 / % possible obs: 97 % / Observed criterion σ(I): 1 / 冗長度: 4.6 % / Biso Wilson estimate: 52.6 Å2 / Rsym value: 0.042 / Net I/σ(I): 36.7
反射 シェル
解像度: 1.95→2 Å / Mean I/σ(I) obs: 6.3 / Rsym value: 0.447 / % possible all: 99.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.1
精密化
SCALEPACK
データスケーリング
MLPHARE
位相決定
CNS
1
精密化
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2→15 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.942 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.931 / SU B: 5.404 / SU ML: 0.147 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2 / ESU R: 0.213 / ESU R Free: 0.179 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. for refinement used also CNS 1.0
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.26691
322
4.7 %
RANDOM
Rwork
0.24083
-
-
-
obs
0.24204
6590
97.27 %
-
all
-
6775
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 45.879 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0.19 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
0.19 Å2
0 Å2
3-
-
-
-0.38 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2→15 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
642
0
1
56
699
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.009
0.021
657
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.002
0.02
575
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.206
1.913
891
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.834
3
1336
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.175
5
79
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.066
0.2
101
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.005
0.02
736
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.002
0.02
137
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.213
0.2
183
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.234
0.2
687
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.085
0.2
374
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.219
0.2
35
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.197
0.2
22
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.196
0.2
54
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.135
0.2
9
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.979
3
398
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
3.556
4
647
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
3.259
6
259
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
5.211
9
244
LS精密化 シェル
解像度: 2→2.052 Å / Total num. of bins used: 20 /
Rfactor
反射数
Rfree
0.337
24
Rwork
0.296
475
精密化 TLS
手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION
ID
L11 (°2)
L12 (°2)
L13 (°2)
L22 (°2)
L23 (°2)
L33 (°2)
S11 (Å °)
S12 (Å °)
S13 (Å °)
S21 (Å °)
S22 (Å °)
S23 (Å °)
S31 (Å °)
S32 (Å °)
S33 (Å °)
T11 (Å2)
T12 (Å2)
T13 (Å2)
T22 (Å2)
T23 (Å2)
T33 (Å2)
Origin x (Å)
Origin y (Å)
Origin z (Å)
1
12.3953
-4.7373
-1.1772
2.3774
0.1582
4.1539
0.6655
1.8736
-0.2347
-0.4912
-0.5838
0.0981
0.1901
-0.8568
-0.0817
0.2013
0.021
-0.0969
0.5604
-0.0297
0.1635
3.2472
9.4618
23.9361
2
7.535
-1.4051
-2.054
2.5869
2.4249
0.2471
0.3303
0.742
0.9393
-0.0521
-0.0486
-0.4699
-0.7279
-0.217
-0.2817
0.3183
-0.1259
-0.0615
0.2822
0.2757
0.3075
7.482
19.7916
28.8642
3
1.9247
0.2389
1.2887
2.8768
4.8859
11.8772
-0.0731
-0.0882
0.0515
0.2484
0.0904
0.3987
0.2513
-0.524
-0.0174
0.2352
-0.0526
-0.0604
0.1735
0.0324
0.2712
5.1797
13.8504
47.6017
4
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0.1853
-0.0755
-0.1039
0.2788
-0.0568
0.241
5.7131
6.8481
27.2863
精密化 TLSグループ
ID
Refine-ID
Refine TLS-ID
Auth asym-ID
Label asym-ID
Auth seq-ID
Label seq-ID
1
X-RAY DIFFRACTION
1
A
A
2 - 19
1 - 18
2
X-RAY DIFFRACTION
1
A
A
51 - 54
50 - 53
3
X-RAY DIFFRACTION
2
A
A
20 - 50
19 - 49
4
X-RAY DIFFRACTION
3
A
A
55 - 81
54 - 80
5
X-RAY DIFFRACTION
4
A
B
100
1
ソフトウェア
*PLUS
バージョン: 5.1 / 分類: refinement
精密化
*PLUS
最高解像度: 2 Å / 最低解像度: 15 Å / Rfactor Rfree: 0.267 / Rfactor Rwork: 0.241