ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5 精密化 SCALAデータスケーリング CNS精密化 MOSFLMデータ削減 CCP4(SCALA)データスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.4→38.35 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.92 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.865 / SU B : 9.885 / SU ML : 9.885 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.466 / ESU R Free : 0.32 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.3079 1053 5.3 % RANDOM Rwork 0.23532 - - - all 0.2391 18630 - - obs 0.23917 18630 100 % -
溶媒の処理 減衰半径 : 0.8 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 26.887 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 3.18 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.74 Å2 0 Å2 3- - - -2.44 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.4→38.35 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3352 0 0 19 3371
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.018 0.021 3435 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.906 1.948 4681 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.934 3 435 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg21.844 15 597 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.164 0.2 537 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 2575 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.286 0.3 1532 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.15 0.5 353 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.341 0.3 53 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.27 0.5 1 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it2.728 1.5 2173 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it4.008 2 3531 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it5.465 2.5 1262 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it6.68 3 1150
LS精密化 シェル 解像度 : 2.4→2.462 Å / Total num. of bins used : 20 / Rfactor 反射数 Rfree 0.391 68 Rwork 0.269 1352
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 4.1341 2.7516 -1.7311 3.3573 -1.0216 3.4098 0.1622 0.3579 0.1974 0.2748 0.1686 0.3046 -0.3744 -0.2862 -0.3308 0.0687 0.0856 0.0439 0.1126 0.0363 0.086 79.2355 -44.4279 -60.5643 2 2.2495 1.4391 0.1137 3.705 0.4418 2.3294 -0.0702 0.1265 -0.1038 -0.3281 0.0609 -0.2262 0.1819 0.0576 0.0093 0.1446 0.0337 0.007 0.0971 0.021 0.0832 96.8031 -51.1445 -89.5422
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 LA1 - 112 1 - 112 2 X-RAY DIFFRACTION 1 HB1 - 119 1 - 119 3 X-RAY DIFFRACTION 2 LA113 - 217 113 - 217 4 X-RAY DIFFRACTION 2 HB120 - 220 120 - 220
精密化 *PLUS
最高解像度 : 2.4 Å / 最低解像度 : 40 Å / Rfactor Rfree : 0.315 / Rfactor Rwork : 0.25 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
LS精密化 シェル *PLUS
最高解像度 : 2.4 Å / 最低解像度 : 2.46 Å