ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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COMO | | 位相決定 | CNS | 1 | 精密化 | SCALEPACK | | データスケーリング |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: pdb entry 1ypi 解像度: 1.8→29.75 Å / Rfactor Rfree error: 0.003 / Data cutoff high absF: 329070.72 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.208 | 5078 | 10.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.175 | - | - | - |
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all | 0.185 | 52840 | - | - |
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obs | 0.175 | 50343 | 95.3 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 47.8 Å2 / ksol: 0.318 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 20.6 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 1.21 Å2 | 0 Å2 | 1.81 Å2 |
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2- | - | -2.41 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 1.2 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.22 Å | 0.18 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.2 Å | 0.19 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.8→29.75 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 3758 | 0 | 0 | 629 | 4387 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.005 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.2 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d22.5 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d0.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.12 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it1.57 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it1.83 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it2.67 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.8→1.91 Å / Rfactor Rfree error: 0.011 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.308 | 724 | 9.6 % |
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Rwork | 0.282 | 6826 | - |
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obs | - | - | 86.4 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | FTR.PARAMFTR.TOP | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS Num. reflection obs: 50392 / σ(F): 0 / % reflection Rfree: 10.1 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 20.6 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.2 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg22.5 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg0.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.12 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it1.83 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it1.57 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it2.67 | 2.5 | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.308 / % reflection Rfree: 9.6 % / Rfactor Rwork: 0.282 |
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