ソフトウェア 名称 分類 CNS精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング CNS位相決定
精密化 解像度 : 2.1→20 Å / Rfactor Rfree error : 0.01 / Data cutoff high absF : 3164980.2 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.276 722 4.9 % RANDOM Rwork 0.218 - - - obs 0.218 14661 84 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 61 Å2 / ksol : 0.377 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 26.9 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.29 Å2 -1.29 Å2 0 Å2 2- - 1.29 Å2 0 Å2 3- - - -2.58 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.34 Å 0.25 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.35 Å 0.21 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1638 0 0 143 1781
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.005 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d23.2 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.67 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it2.03 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2.77 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it3.49 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it4.97 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.23 Å / Rfactor Rfree error : 0.036 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.382 110 4.7 % Rwork 0.268 2245 - obs - - 83.3 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PAPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAWATER.TOP
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.5 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
σ(F) : 0 / % reflection Rfree : 4.9 %溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 26.9 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg23.2 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.67 X-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.5 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.5
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.382 / % reflection Rfree : 4.7 % / Rfactor Rwork : 0.268