ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS精密化 MOSFLMデータ削減 CCP4(SCALA)データスケーリング CNS位相決定
精密化 解像度 : 1.65→20 Å / Rfactor Rfree error : 0.008 / Data cutoff high absF : 1633216.03 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.253 896 3.6 % RANDOM Rwork 0.247 - - - obs 0.247 24922 93.4 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 62.1 Å2 / ksol : 0.482 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 16.6 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.1 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -1.09 Å2 0 Å2 3- - - 0 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.24 Å 0.23 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.18 Å 0.16 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.65→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1638 0 0 156 1794
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.005 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d23.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.75 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it0.4 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it0.72 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it0.69 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it1.12 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.65→1.75 Å / Rfactor Rfree error : 0.025 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.304 150 3.7 % Rwork 0.296 3859 - obs - - 91.5 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PAPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAWATER_REP.TOP
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.5 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
σ(F) : 0 / % reflection Rfree : 3.6 %溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 16.6 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg23.3 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.75 X-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.5 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.5
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.304 / % reflection Rfree : 3.7 % / Rfactor Rwork : 0.296