6DHH

RT XFEL structure of Photosystem II 400 microseconds after the second illumination at 2.2 Angstrom resolution

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Experimental procedure

実験手法	SINGLE WAVELENGTH
Source type	FREE ELECTRON LASER
Source details	SLAC LCLS BEAMLINE MFX
Synchrotron site	SLAC LCLS
Beamline	MFX
Temperature [K]	298
Detector technology	CCD
Collection date	2016-07-14
Detector	RAYONIX MX170-HS
Wavelength(s)	1.305
Spacegroup name	P 21 21 21
格子定数 [Å]	117.691, 222.529, 308.514
格子定数 [度]	90.00, 90.00, 90.00

精密化法

残基	30.851 - 2.200
R因子	0.1939
Rwork	0.193
R-free	0.26430
Data reduction software	cctbx.xfel
Phasing software	PHASER
Refinement software	PHENIX (dev_svn)

Quality characteristics

	Overall	Inner shell	Outer shell
分解能 [Å] (低)	30.850	30.850	2.238
分解能 [Å] (高)	2.200	5.972	2.200
独立反射数	407641
<I/σ(I)>	10.602	81.921	0.707
完全性 [%]	100.0	99.1	99.99
冗長性	133.39	555.29	13.8
CC(1/2)	0.960	0.971	0.006

結晶化条件

結晶ID	方法	pH	温度	溶液条件
1	BATCH MODE	6.5	298	0.1 M MES pH 6.5, 0.1 M NH4Cl, 35% (w/v) PEG 5000
1	BATCH MODE	6.5	298	0.1 M MES pH 6.5, 0.1 M NH4Cl, 35% (w/v) PEG 5000
1	BATCH MODE	6.5	298	0.1 M MES pH 6.5, 0.1 M NH4Cl, 35% (w/v) PEG 5000