ソフトウェア 名称 バージョン 分類 Blu-IceMaxデータ収集 HKL-3000位相決定 MLPHARE位相決定 直接法モデル構築 SHELXD位相決定 ARP/wARPモデル構築 Cootモデル構築 REFMAC5.5.0051精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング 直接法位相決定
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.95→22.33 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.957 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.943 / SU B : 5.694 / SU ML : 0.077 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.117 / ESU R Free : 0.122 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.226 604 4.8 % RANDOM Rwork 0.18316 - - - obs 0.18521 11984 99.83 % - all - 12588 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 19.925 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.65 Å2 0.82 Å2 0 Å2 2- - 1.65 Å2 0 Å2 3- - - -2.47 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.95→22.33 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 775 0 1 105 881
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.019 0.022 790 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 539 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.615 1.941 1066 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.901 3 1301 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.733 5 92 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg28.8 23.571 42 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.223 15 141 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg12.846 15 7 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.098 0.2 117 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 867 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 170 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.087 1.5 465 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.314 1.5 190 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.997 2 746 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.529 3 325 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it5.93 4.5 320 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.95→2.001 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.265 37 - Rwork 0.19 839 - obs - - 98.65 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 34.4501 Å / Origin y : 22.4862 Å / Origin z : 20.4432 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T 0.0517 Å2 0.0085 Å2 0.0086 Å2 - 0.0852 Å2 0.0165 Å2 - - 0.0103 Å2 L 2.8971 °2 0.542 °2 0.9626 °2 - 0.9887 °2 0.4558 °2 - - 1.4877 °2 S -0.0131 Å ° 0.1571 Å ° -0.0196 Å ° -0.0458 Å ° 0.0904 Å ° 0.0156 Å ° -0.0181 Å ° 0.0068 Å ° -0.0773 Å °