モード: BRIGHT FIELD / 最大 デフォーカス(公称値): 2000 nm / 最小 デフォーカス(公称値): 800 nm / Cs: 2.7 mm
撮影
ID
Imaging-ID
電子線照射量 (e/Å2)
フィルム・検出器のモデル
1
1
50
TFS FALCON 4i (4k x 4k)
2
1
54.6
GATAN K3 (6k x 4k)
-
解析
EMソフトウェア
ID
名称
バージョン
カテゴリ
2
EPU
5
画像取得
4
RELION
4.0-beta
CTF補正
7
Coot
モデルフィッティング
8
UCSF ChimeraX
モデルフィッティング
9
ISOLDE
モデルフィッティング
11
REFMAC
モデル精密化
画像処理
詳細: Dataset produced as a combination of both FALCON 4i and K3 collections
CTF補正
タイプ: PHASE FLIPPING AND AMPLITUDE CORRECTION
対称性
点対称性: C12 (12回回転対称)
3次元再構成
解像度: 2.75 Å / 解像度の算出法: FSC 0.143 CUT-OFF / 粒子像の数: 7163 / 対称性のタイプ: POINT
原子モデル構築
プロトコル: AB INITIO MODEL / 空間: RECIPROCAL
原子モデル構築
タイプ: in silico model
精密化
解像度: 2.75→2.75 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.753 / WRfactor Rwork: 0.448 / SU B: 10.117 / SU ML: 0.175 / Average fsc overall: 0.4393 / Average fsc work: 0.4393 / ESU R: 0.096 / 詳細: Hydrogens have not been used
Rfactor
反射数
%反射
Rwork
0.4484
7971714
-
all
0.448
-
-
Rfree
-
-
0 %
obs
-
-
100 %
溶媒の処理
溶媒モデル: BABINET MODEL
原子変位パラメータ
Biso mean: 75.425 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-0.254 Å2
-0.008 Å2
0.006 Å2
2-
-
-0.251 Å2
0.005 Å2
3-
-
-
0.504 Å2
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
ELECTRONMICROSCOPY
r_bond_refined_d
0.006
0.012
51648
ELECTRONMICROSCOPY
r_angle_refined_deg
1.644
1.642
70092
ELECTRONMICROSCOPY
r_dihedral_angle_1_deg
7.526
5
6456
ELECTRONMICROSCOPY
r_dihedral_angle_2_deg
32.013
23.74
3048
ELECTRONMICROSCOPY
r_dihedral_angle_3_deg
12.793
15
8556
ELECTRONMICROSCOPY
r_dihedral_angle_4_deg
19.963
15
324
ELECTRONMICROSCOPY
r_chiral_restr
0.112
0.2
6624
ELECTRONMICROSCOPY
r_gen_planes_refined
0.009
0.02
40224
ELECTRONMICROSCOPY
r_nbd_refined
0.198
0.2
41784
ELECTRONMICROSCOPY
r_nbtor_refined
0.29
0.2
71554
ELECTRONMICROSCOPY
r_xyhbond_nbd_refined
0.07
0.2
2496
ELECTRONMICROSCOPY
r_metal_ion_refined
0.042
0.2
48
ELECTRONMICROSCOPY
r_mcbond_it
3.81
7.231
25932
ELECTRONMICROSCOPY
r_mcangle_it
6.941
10.824
32352
ELECTRONMICROSCOPY
r_scbond_it
5.095
7.669
25716
ELECTRONMICROSCOPY
r_scangle_it
9.05
11.229
37740
ELECTRONMICROSCOPY
r_lrange_it
17.342
130.567
200244
LS精密化 シェル
Refine-ID: ELECTRON MICROSCOPY / Num. reflection Rfree: _ / Total num. of bins used: 20 / % reflection obs: 100 %