ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | (1.10.1_2155: ???)精密化 | HKL-3000 | | データ削減 | HKL-3000 | | データスケーリング | PHASER | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.3→29.739 Å / SU ML: 0.31 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.42 / 位相誤差: 24.38
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2477 | 702 | 4.95 % |
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Rwork | 0.2092 | - | - |
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obs | 0.2112 | 14193 | 98.41 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.3→29.739 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2239 | 0 | 33 | 61 | 2333 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.002 | 2325 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d0.53 | 3146 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d20.783 | 1395 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.042 | 326 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.003 | 401 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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2.3-2.4775 | 0.3262 | 150 | 0.2652 | 2620 | X-RAY DIFFRACTION | 96 | 2.4775-2.7267 | 0.2944 | 125 | 0.2593 | 2656 | X-RAY DIFFRACTION | 98 | 2.7267-3.1209 | 0.3237 | 126 | 0.2373 | 2727 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 3.1209-3.9305 | 0.239 | 129 | 0.1955 | 2741 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 3.9305-29.7413 | 0.1896 | 172 | 0.1695 | 2747 | X-RAY DIFFRACTION | 100 |
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精密化 TLS | 手法: refined / Origin x: -17.0631 Å / Origin y: 12.4183 Å / Origin z: 17.0698 Å
| 11 | 12 | 13 | 21 | 22 | 23 | 31 | 32 | 33 |
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T | 0.1709 Å2 | -0.0127 Å2 | -0.0212 Å2 | - | 0.2439 Å2 | -0.0899 Å2 | - | - | 0.2468 Å2 |
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L | 0.1981 °2 | -0.3377 °2 | -0.0167 °2 | - | 2.0596 °2 | -0.419 °2 | - | - | 0.1431 °2 |
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S | 0.0155 Å ° | 0.0113 Å ° | 0.0479 Å ° | -0.0917 Å ° | -0.0034 Å ° | 0.1084 Å ° | -0.0399 Å ° | -0.0375 Å ° | -0.0131 Å ° |
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精密化 TLSグループ | Selection details: all |
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