ソフトウェア 名称 バージョン 分類 BUSTER2.11.6精密化 XDSデータ削減 XDSデータスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.54→38.84 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.885 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.863 / Rfactor Rfree error : 0 / SU R Cruickshank DPI : 0.438 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / SU R Blow DPI : 0.459 / SU Rfree Blow DPI : 0.314 / SU Rfree Cruickshank DPI : 0.312 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.314 598 4.94 % RANDOM Rwork 0.275 - - - obs 0.276 12108 99 % -
原子変位パラメータ Biso mean : 61.77 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.3366 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.3366 Å2 0 Å2 3- - - -0.6733 Å2
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.49 Å精密化ステップ サイクル : 1 / 解像度 : 2.54→38.84 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1776 0 0 72 1848
拘束条件 大きな表を表示 (6 x 18) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal 数 Restraint function Weight X-RAY DIFFRACTION t_bond_d0.01 1822 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_angle_deg1.3 2475 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_dihedral_angle_d605 SINUSOIDAL2 X-RAY DIFFRACTION t_incorr_chiral_ctX-RAY DIFFRACTION t_pseud_angleX-RAY DIFFRACTION t_trig_c_planes37 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_gen_planes269 HARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_it1822 HARMONIC20 X-RAY DIFFRACTION t_nbdX-RAY DIFFRACTION t_omega_torsion3.06 X-RAY DIFFRACTION t_other_torsion23.54 X-RAY DIFFRACTION t_improper_torsionX-RAY DIFFRACTION t_chiral_improper_torsion236 SEMIHARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_sum_occupanciesX-RAY DIFFRACTION t_utility_distanceX-RAY DIFFRACTION t_utility_angleX-RAY DIFFRACTION t_utility_torsionX-RAY DIFFRACTION t_ideal_dist_contact2037 SEMIHARMONIC4
LS精密化 シェル 解像度 : 2.54→2.78 Å / Rfactor Rfree error : 0 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.351 159 5.59 % Rwork 0.303 2685 - all 0.306 2844 - obs - - 99.03 %