ソフトウェア 名称 バージョン 分類 BUSTER2.11.6精密化 XDSデータ削減 XDSデータスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 多重同系置換 / 解像度 : 2.19→27.73 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.943 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.915 / Rfactor Rfree error : 0 / SU R Cruickshank DPI : 0.3 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / SU R Blow DPI : 0.324 / SU Rfree Blow DPI : 0.221 / SU Rfree Cruickshank DPI : 0.217 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.248 628 4.98 % RANDOM Rwork 0.212 - - - obs 0.214 12599 93.9 % -
原子変位パラメータ Biso mean : 45.39 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.0368 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.3691 Å2 0 Å2 3- - - -0.4059 Å2
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.37 Å精密化ステップ サイクル : 1 / 解像度 : 2.19→27.73 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1839 0 0 101 1940
拘束条件 大きな表を表示 (6 x 18) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal 数 Restraint function Weight X-RAY DIFFRACTION t_bond_d0.01 1889 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_angle_deg1.19 2566 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_dihedral_angle_d618 SINUSOIDAL2 X-RAY DIFFRACTION t_incorr_chiral_ctX-RAY DIFFRACTION t_pseud_angleX-RAY DIFFRACTION t_trig_c_planes39 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_gen_planes279 HARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_it1889 HARMONIC20 X-RAY DIFFRACTION t_nbdX-RAY DIFFRACTION t_omega_torsion3.51 X-RAY DIFFRACTION t_other_torsion20.06 X-RAY DIFFRACTION t_improper_torsionX-RAY DIFFRACTION t_chiral_improper_torsion239 SEMIHARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_sum_occupanciesX-RAY DIFFRACTION t_utility_distanceX-RAY DIFFRACTION t_utility_angleX-RAY DIFFRACTION t_utility_torsionX-RAY DIFFRACTION t_ideal_dist_contact2138 SEMIHARMONIC4
LS精密化 シェル 解像度 : 2.19→2.4 Å / Rfactor Rfree error : 0 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.348 131 5.46 % Rwork 0.307 2268 - all 0.309 2399 - obs - - 76.1 %