プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.95373 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.67→106.6 Å / Num. obs: 106792 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 7 % / Net I/σ(I): 7.1
反射 シェル
解像度: 2.67→2.72 Å
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0230
精密化
XDS
データ削減
Aimless
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.67→49.34 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.937 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.924 / SU B: 16.515 / SU ML: 0.299 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 1.045 / ESU R Free: 0.315 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.24099
5221
4.9 %
RANDOM
Rwork
0.21868
-
-
-
obs
0.2198
101518
99.93 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1 Å / 溶媒モデル: MASK