プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9792 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.94→61.06 Å / Num. obs: 26803 / % possible obs: 94 % / 冗長度: 3.7 % / Net I/σ(I): 27.3
反射 シェル
最高解像度: 1.94 Å / % possible all: 72.6
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0049
精密化
XDS
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 1.94→61.06 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.945 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.922 / SU B: 8.111 / SU ML: 0.112 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.208 / ESU R Free: 0.168 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.21983
2666
10 %
RANDOM
Rwork
0.18161
-
-
-
obs
0.18545
23961
92.49 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK