タイプ: MAR scanner 300 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2015年7月24日
放射
モノクロメーター: Si(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.91833 Å / 相対比: 1
Reflection
冗長度: 14.1 % / 数: 193718 / Rmerge(I) obs: 0.145 / Χ2: 1.09 / D res high: 1.2 Å / D res low: 50 Å / Num. obs: 13758 / % possible obs: 99.7
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
3.26
50
1
0.074
1.029
13.1
2.59
3.26
1
0.088
1.074
15.2
2.26
2.59
1
0.103
1.253
16.4
2.05
2.26
1
0.123
1.259
16.5
1.9
2.05
1
0.137
1.152
16.7
1.79
1.9
1
0.157
1.132
16.7
1.7
1.79
1
0.168
1.123
16.9
1.63
1.7
1
0.214
1.177
16.7
1.57
1.63
1
0.303
1.118
16.9
1.51
1.57
1
0.391
1.127
16.6
1.46
1.51
1
0.51
1.086
16.4
1.42
1.46
1
0.555
1.033
16
1.39
1.42
1
0.589
1.056
14.7
1.35
1.39
1
0.577
1.006
13
1.32
1.35
1
0.5
1.047
11.7
1.29
1.32
1
0.534
1
11.1
1.27
1.29
1
0.498
0.997
10.1
1.24
1.27
1
0.529
0.933
9.4
1.22
1.24
1
0.552
0.937
8.7
1.2
1.22
1
0.584
0.953
8.1
反射
解像度: 1.2→50 Å / Num. obs: 13758 / % possible obs: 99.7 % / 冗長度: 14.1 % / Rmerge(I) obs: 0.145 / Net I/σ(I): 11.3
反射 シェル
解像度: 1.2→1.22 Å / 冗長度: 8.1 % / Rmerge(I) obs: 0.584 / % possible all: 100
-
位相決定
位相決定
手法: 単波長異常分散
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0073
精密化
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データスケーリング
SHELX
位相決定
PDB_EXTRACT
3.15
データ抽出
HKL-2000
データ削減
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.2→29.24 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.975 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.956 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.035 / ESU R Free: 0.037 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.157
708
5.2 %
RANDOM
Rwork
0.12
-
-
-
obs
0.121
12988
99.6 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK