モノクロメーター: SI (111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.8726 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2→46.94 Å / Num. obs: 17983 / % possible obs: 97.5 % / Observed criterion σ(I): 2.94 / 冗長度: 8.5 % / Biso Wilson estimate: 26.84 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.14 / Net I/σ(I): 13.8
反射 シェル
解像度: 2→2.12 Å / 冗長度: 8.01 % / Rmerge(I) obs: 0.79 / Mean I/σ(I) obs: 2.94 / % possible all: 79.1
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE)
精密化
XDS
データ削減
Aimless
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: THE WILD TYPE S. ENTERICA HISA 解像度: 1.999→46.942 Å / SU ML: 0.24 / σ(F): 1.34 / 位相誤差: 24.02 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: RESIDUES 17-24, 174, 178-179 AND 245- 253 ARE DISORDERED
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2471
934
5.1 %
Rwork
0.1938
-
-
obs
0.1965
18195
98.82 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL