プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.9→142 Å / Num. obs: 62554 / % possible obs: 99.7 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 6.5 % / Biso Wilson estimate: 31.7 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.08 / Net I/σ(I): 13.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0073
精密化
XDS
データ削減
Aimless
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: OTHER 開始モデル: NONE 解像度: 1.9→77.88 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.961 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.957 / SU B: 6.769 / SU ML: 0.095 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.133 / ESU R Free: 0.121 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20365
1252
2 %
RANDOM
Rwork
0.1762
-
-
-
obs
0.17677
61229
99.56 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK