モノクロメーター: horizontally diffracting Si (111) monochromator and Pt coated mirrors in Kirkpatrick-Baez geometry for focusing プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
解像度: 1.52→1.61 Å / 冗長度: 7.3 % / Mean I/σ(I) obs: 1.01 / % possible all: 98.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.7.0029
精密化
Coot
モデル構築
XDS
データスケーリング
MOLREP
位相決定
MxCuBE
データ収集
精密化
構造決定の手法: フーリエ合成 / 解像度: 1.52→38.56 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.965 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.962 / SU B: 1.748 / SU ML: 0.062 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.087 / ESU R Free: 0.084 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2098
1854
5 %
RANDOM
Rwork
0.18605
-
-
-
obs
0.18728
35223
99.84 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK