モノクロメーター: GRAPHITE / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9793 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.4→50 Å / Num. obs: 57826 / % possible obs: 99.7 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 14.6 % / Biso Wilson estimate: 21.085 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.111 / Net I/σ(I): 16.5
反射 シェル
解像度: 1.4→1.42 Å / 冗長度: 13.9 % / Rmerge(I) obs: 0.72 / Mean I/σ(I) obs: 4.1 / % possible all: 98.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SHELX
モデル構築
ARP/wARP
モデル構築
REFMAC
5.8.0073
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
SHELX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.4→47.76 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.973 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.968 / SU B: 1.934 / SU ML: 0.034 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.051 / ESU R Free: 0.05 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.16294
1794
3.1 %
RANDOM
Rwork
0.124
-
-
-
obs
0.12524
55931
99.66 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK