プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.127 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.77→50 Å / Num. obs: 30311 / % possible obs: 99.2 % / 冗長度: 4.7 % / Rmerge(I) obs: 0.084 / Χ2: 0.774 / Net I/σ(I): 8.2
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
Diffraction-ID
% possible all
1.77-1.83
4.4
0.601
2785
0.742
1
92.7
1.83-1.91
4.7
0.452
3010
0.811
1
99.7
1.91-1.99
4.8
0.304
3009
0.842
1
100
1.99-2.1
4.8
0.221
3005
0.928
1
100
2.1-2.23
4.9
0.171
2993
0.817
1
100
2.23-2.4
4.8
0.145
3051
0.907
1
100
2.4-2.64
4.9
0.113
3034
0.905
1
100
2.64-3.03
4.8
0.079
3063
0.79
1
100
3.03-3.81
4.8
0.062
3107
0.59
1
100
3.81-50
4.6
0.048
3254
0.415
1
99.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
SCALEPACK
データスケーリング
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.77→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.961 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.937 / WRfactor Rfree: 0.2468 / WRfactor Rwork: 0.1909 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.8216 / SU B: 2.899 / SU ML: 0.091 / SU R Cruickshank DPI: 0.1217 / SU Rfree: 0.1261 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.122 / ESU R Free: 0.126 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2355
1530
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.183
-
-
-
obs
0.1856
30257
99.28 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK