プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.6046 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.77→50 Å / Num. obs: 30425 / % possible obs: 98.8 % / 冗長度: 13.3 % / Rmerge(I) obs: 0.095 / Χ2: 3.922 / Net I/σ(I): 15.2
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
Diffraction-ID
% possible all
1.77-1.8
13
0.398
1445
1.132
1
95.6
1.8-1.83
14.1
0.322
1469
1.287
1
97.1
1.83-1.87
14.1
0.273
1479
1.468
1
98.1
1.87-1.91
14.1
0.239
1474
1.705
1
97.3
1.91-1.95
14.1
0.201
1489
2.1
1
97.8
1.95-1.99
14
0.177
1492
2.338
1
98.5
1.99-2.04
14
0.159
1490
2.789
1
98.5
2.04-2.1
13.9
0.15
1495
3.131
1
98.2
2.1-2.16
13.7
0.138
1511
3.544
1
98.6
2.16-2.23
13.6
0.13
1505
3.797
1
98.8
2.23-2.31
13.7
0.121
1514
4.03
1
99.1
2.31-2.4
13.7
0.113
1517
4.176
1
99.4
2.4-2.51
13.7
0.113
1527
4.352
1
99.4
2.51-2.64
13.5
0.105
1529
4.796
1
99.7
2.64-2.81
13
0.103
1545
5.702
1
99.7
2.81-3.03
13
0.09
1544
5.935
1
99.9
3.03-3.33
12.5
0.077
1558
6.316
1
100
3.33-3.81
12.1
0.072
1568
6.605
1
100
3.81-4.8
12.1
0.067
1582
6.744
1
100
4.8-50
11.3
0.071
1692
7.419
1
99.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
SCALEPACK
データスケーリング
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
SHELXS
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.77→48.82 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.959 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.94 / WRfactor Rfree: 0.218 / WRfactor Rwork: 0.1766 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.8794 / SU B: 1.958 / SU ML: 0.064 / SU R Cruickshank DPI: 0.113 / SU Rfree: 0.1123 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.113 / ESU R Free: 0.112 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2093
1530
5 %
RANDOM
Rwork
0.1694
-
-
-
obs
0.1715
30378
98.64 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK